Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) - Rolf Erni - Bog
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 432
- Udgivet:
- 18. maj 2015
- Udgave:
- 2
- Størrelse:
- 160x238x23 mm.
- Vægt:
- 802 g.
- 2-3 uger.
- 10. december 2024
Normalpris
-
BLACK NOVEMBER
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
Brugerbedømmelser af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
