Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction - Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science - Bog
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 348
- Udgivet:
- 1. september 2010
- Størrelse:
- 175x254x20 mm.
- Vægt:
- 768 g.
- Ukendt - mangler pt..
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Bag om Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science
Vis alle bøger af Rolf (Swiss Federal Labs For Materials ScienceBeskrivelse af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.
Brugerbedømmelser af Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
