Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention - Rupal Jain - Bog
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 138
- Udgivet:
- 25. november 2024
- Størrelse:
- 156x234x0 mm.
- Vægt:
- 281 g.
- 2-4 uger.
- 28. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention
This is essential reading for semiconductor professionals seeking to expand their knowledge on silicon processes, understand defect prevention, and explore optimizing processes by reducing defects using AI and IoT technologies. It charts a course where semiconductor manufacturing defects are minimized and maximizes productivity.
Brugerbedømmelser af Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
