Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Advances in X-Ray Analysis - Bog
- Volume 28
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 408
- Udgivet:
- 30. juni 1985
- Udgave:
- 1985
- Vægt:
- 970 g.
- Ukendt - mangler pt..
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
-
BLACK FRIDAY: :
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Advances in X-Ray Analysis
The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics.
Brugerbedømmelser af Advances in X-Ray Analysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Advances in X-Ray Analysis findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
