Vi bøger
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - Bog

indgår i MRS Proceedings serien

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Bag om CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781605111285
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 194
  • Udgivet:
  • 19. november 2009
  • Størrelse:
  • 160x236x14 mm.
  • Vægt:
  • 430 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brugerbedømmelser af CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.