Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 - J. Doneker - Bog
- Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 524
- Udgivet:
- 1. januar 1998
- Størrelse:
- 156x234x30 mm.
- Vægt:
- 975 g.
- 8-11 hverdage.
- 22. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.
Brugerbedømmelser af Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2025 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
