Vi bøger
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - Cher Ming Tan - Bog

af Cher Ming Tan

indgår i SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology serien

indgår i SpringerBriefs in Reliability serien

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level af Cher Ming Tan
Bag om Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9789814451208
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 103
  • Udgivet:
  • 4. Maj 2013
  • Udgave:
  • 2013
  • Størrelse:
  • 155x235x6 mm.
  • Vægt:
  • 1883 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. Oktober 2024
På lager

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Bag om Cher Ming Tan

Vis alle bøger af Cher Ming Tan

Beskrivelse af Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Brugerbedømmelser af Electromigration Modeling at Circuit Layout Level



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Electromigration Modeling at Circuit Layout Level findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.