Vi bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs - Ricardo Reis - Bog

Bag om Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783030683672
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 131
  • Udgivet:
  • 11. marts 2021
  • Udgave:
  • 12021
  • Størrelse:
  • 155x235x0 mm.
  • Vægt:
  • 454 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Brugerbedømmelser af Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs



Find lignende bøger
Bogen Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.