Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies - Alvin W. (IBM) Strong - Bog
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 640
- Udgivet:
- 4. september 2009
- Størrelse:
- 164x243x34 mm.
- Vægt:
- 993 g.
- 2-3 uger.
- 6. december 2024
Normalpris
-
BLACK NOVEMBER
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.
Brugerbedømmelser af Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
