Vi bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Scanning Electron Microscopy - Ludwig Reimer - Bog

- Physics of Image Formation and Microanalysis

Bag om Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783540639763
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 529
  • Udgivet:
  • 17. september 1998
  • Udgave:
  • 21998
  • Størrelse:
  • 242x166x34 mm.
  • Vægt:
  • 954 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy



Find lignende bøger
Bogen Scanning Electron Microscopy findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.