Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis - Nobuo (Nagoya Univ Tanaka - Bog
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 616
- Udgivet:
- 13. oktober 2014
- Størrelse:
- 161x238x31 mm.
- Vægt:
- 1078 g.
- 2-3 uger.
- 14. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis
The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This title covers achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies.
Brugerbedømmelser af Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Transmission Electron Microscopy Of Nanomaterials: Basics Of Imaging And Analysis findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
