Name: Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Price: 2321.95 DKK
Availability: OutOfStock
Author: Chakrabarty Krishnendu
ISBN: 9781439829417

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits af Chakrabarty Krishnendu

Du sparer 0% ift. normalprisen Spar 0%

Hardback
Udsolgt
2.321,95 kr.

Sprog:
Engelsk

ISBN:
9781439829417

Forlag:
Taylor & Francis Inc

Indbinding:
Hardback

Sideantal:
259

Udgivet:
25. oktober 2013

Størrelse:
175x238x22 mm.

Vægt:
598 g.

Leveringstid: Ukendt - mangler pt..

Normalpris

BLACK NOVEMBER
2.321,95 kr. + Fragt
~~2.321,95 kr.~~

Medlemspris

2.271,95 kr.

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Bag om Chakrabarty Krishnendu

Vis alle bøger af Chakrabarty Krishnendu

Brugerbedømmelser af Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Andre købte også..

Find lignende bøger

Bogen Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits findes i følgende kategorier:

Business og læring

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits - Chakrabarty Krishnendu - Bog

Bag om Chakrabarty Krishnendu

Brugerbedømmelser af Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Gør som tusindvis af andre bogelskere