Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
This book offers a thorough understanding of the applications of finite element method (FEM) to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.
Filled with practical examples, this is a comprehensive reference on process reliability for semiconductor process and design engineers.
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.