Black November: Store besparelser hele måneden Vi fejrer Black Friday hele november måned med store besparelser
Udvidet returret til d. 31. januar 2024
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits - Nicola Nicolici - Bog

- A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

af Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

indgår i Frontiers in Electronic Testing serien

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits af Nicola Nicolici
Bag om Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781402072352
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 178
  • Udgivet:
  • 28. februar 2003
  • Udgave:
  • 2003
  • Størrelse:
  • 297x210x12 mm.
  • Vægt:
  • 990 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 20. november 2024
På lager

Normalpris

  • BLACK NOVEMBER

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Bag om Nicola Nicolici

Vis alle bøger af Nicola Nicolici

Beskrivelse af Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.

Brugerbedømmelser af Power-Constrained Testing of VLSI Circuits



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Power-Constrained Testing of VLSI Circuits findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.