Udvidet returret til d. 31. januar 2025

Logic Testing and Design for Testability - Hideo Fujiwara - Bog

Bag om Logic Testing and Design for Testability

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780262561990
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 304
  • Udgivet:
  • 31. juli 1985
  • Størrelse:
  • 229x152x25 mm.
  • Vægt:
  • 503 g.
  • 2-3 uger.
  • 11. december 2024

Normalpris

  • BLACK NOVEMBER

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Logic Testing and Design for Testability

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

Brugerbedømmelser af Logic Testing and Design for Testability



Find lignende bøger
Bogen Logic Testing and Design for Testability findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.