Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices - Bog
indgår i NATO Science Series B serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 782
- Udgivet:
- 11. september 2013
- Udgave:
- 11979
- Størrelse:
- 252x175x45 mm.
- Vægt:
- 1346 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. december 2024
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy.
Brugerbedømmelser af Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
