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Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS - Bog

Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS
Bag om Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

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  • Sprog:
  • Tysk
  • ISBN:
  • 9783824420919
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 138
  • Udgivet:
  • 23. september 1997
  • Udgave:
  • 1997
  • Størrelse:
  • 210x148x8 mm.
  • Vægt:
  • 181 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. december 2024
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Beskrivelse af Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

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