Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bog
- Third Edition
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 689
- Udgivet:
- 31. maj 2013
- Udgave:
- 320033
- Størrelse:
- 182x255x43 mm.
- Vægt:
- 1310 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. januar 2025
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
