Udvidet returret til d. 31. januar 2025

Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy - John Armstrong - Bog

- A Laboratory Workbook

Bag om Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780306435911
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 407
  • Udgivet:
  • 31. august 1990
  • Udgave:
  • 11990
  • Størrelse:
  • 246x302x25 mm.
  • Vægt:
  • 726 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 29. november 2024

Normalpris

  • BLACK NOVEMBER

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope.

Brugerbedømmelser af Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy



Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.