Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Semiconductor Material and Device Characterization - Dieter K. (Arizona State University) Schroder - Bog
indgår i Wiley - IEEE serien
indgår i IEEE Press serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 800
- Udgivet:
- 17. februar 2006
- Udgave:
- 3
- Størrelse:
- 243x164x51 mm.
- Vægt:
- 1324 g.
- 8-11 hverdage.
- 17. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Bag om Dieter K. (Arizona State University) Schroder
Vis alle bøger af Dieter K. (Arizona State University) SchroderBeskrivelse af Semiconductor Material and Device Characterization
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
Brugerbedømmelser af Semiconductor Material and Device Characterization
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Semiconductor Material and Device Characterization findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
