Udvidet returret til d. 31. januar 2024

Testing Static Random Access Memories - Said Hamdioui - Bog

- Defects, Fault Models and Test Patterns

Bag om Testing Static Random Access Memories

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781402077524
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 221
  • Udgivet:
  • 31. marts 2004
  • Udgave:
  • 2004
  • Størrelse:
  • 235x155x14 mm.
  • Vægt:
  • 1150 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 20. november 2024
På lager

Normalpris

  • BLACK NOVEMBER

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Testing Static Random Access Memories

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Brugerbedømmelser af Testing Static Random Access Memories



Find lignende bøger
Bogen Testing Static Random Access Memories findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.