Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Applied Scanning Probe Methods II - Bog
- Scanning Probe Microscopy Techniques
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 420
- Udgivet:
- 12. februar 2010
- Udgave:
- 12006
- Størrelse:
- 156x234x23 mm.
- Vægt:
- 706 g.
- 1-2 uger.
- 24. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Applied Scanning Probe Methods II
These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
Brugerbedømmelser af Applied Scanning Probe Methods II
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Applied Scanning Probe Methods II findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2025 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
