Vi bøger
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Applied Scanning Probe Methods III

Applied Scanning Probe Methods III - Bog

- Characterization

indgår i NanoScience and Technology serien

Applied Scanning Probe Methods III
Bag om Applied Scanning Probe Methods III

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642065965
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 378
  • Udgivet:
  • 12. februar 2010
  • Udgave:
  • 12006
  • Størrelse:
  • 156x234x21 mm.
  • Vægt:
  • 646 g.
  • 1-2 uger.
  • 24. januar 2025

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Applied Scanning Probe Methods III

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

Brugerbedømmelser af Applied Scanning Probe Methods III



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Applied Scanning Probe Methods III findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.