Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching - Gerd Kaupp - Bog
- Application to Rough and Natural Surfaces
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 292
- Udgivet:
- 4. august 2006
- Udgave:
- 2006
- Størrelse:
- 155x235x19 mm.
- Vægt:
- 1340 g.
- 8-11 hverdage.
- 29. november 2024
På lager
Normalpris
-
BLACK NOVEMBER
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.
Brugerbedømmelser af Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
