Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Andrei Pavlov - Bog
- Process-Aware SRAM Design and Test
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 194
- Udgivet:
- 1. maj 2008
- Udgave:
- 2008
- Størrelse:
- 239x166x19 mm.
- Vægt:
- 468 g.
- 8-11 hverdage.
- 10. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.
Brugerbedømmelser af CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
