Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - Bog
indgår i NanoScience and Technology serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 408
- Udgivet:
- 25. august 2020
- Udgave:
- 12019
- Størrelse:
- 155x235x0 mm.
- Vægt:
- 652 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.
Brugerbedømmelser af Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
