Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Field-Ion Microscopy - R. Wagner - Bog
indgår i Crystals serien
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 118
- Udgivet:
- 7. december 2011
- Udgave:
- 11982
- Størrelse:
- 244x170x7 mm.
- Vægt:
- 242 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Field-Ion Microscopy
Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.
Brugerbedømmelser af Field-Ion Microscopy
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Field-Ion Microscopy findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
