Vi bøger
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors - Bog

- Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

indgår i Springer Series in Advanced Microelectronics serien

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9788132234241
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 269
  • Udgivet:
  • 23. Oktober 2016
  • Udgave:
  • 12016
  • Vægt:
  • 4918 g.
  • 2-3 uger.
  • 16. Oktober 2024
På lager

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Brugerbedømmelser af Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.