Black Week: Spar op til 85% Spar op til 85% på et kæmpe udvalg af gode bøger
Udvidet returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors - Bog

- Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

indgår i Springer Series in Advanced Microelectronics serien

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9788132234241
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 269
  • Udgivet:
  • 23. oktober 2016
  • Udgave:
  • 12016
  • Vægt:
  • 4918 g.
  • 2-3 uger.
  • 13. december 2024
På lager

Normalpris

  • BLACK WEEK

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Brugerbedømmelser af Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.