Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - Yusuf Leblebici - Bog
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 212
- Udgivet:
- 2. juni 1993
- Udgave:
- 1993
- Størrelse:
- 234x156x14 mm.
- Vægt:
- 1130 g.
- 8-11 hverdage.
- 16. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.
Brugerbedømmelser af Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
