Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588 | Køb bog, hardback som bog, hardback fra Tales

Vi bøger

Levering: 1 - 2 hverdage

Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Du sparer 0% ift. normalprisen Spar 0%

Hardback
Udsolgt
432,95 kr.

Bag om Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Vis mere

Sprog:
Engelsk

ISBN:
9781558994966

Forlag:
Cambridge University Press

Indbinding:
Hardback

Sideantal:
354

Udgivet:
17. april 2000

Størrelse:
157x23x234 mm.

Vægt:
590 g.

Leveringstid: Ukendt - mangler pt..

Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Kan formentlig ikke leveres inden jul

Normalpris

432,95 kr. + Fragt
~~432,95 kr.~~

Medlemspris

401,95 kr.

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Brugerbedømmelser af Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Andre købte også..

Find lignende bøger

Bogen Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588 findes i følgende kategorier: