Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances - Paul Hockett - Bog
indgår i IOP Concise Physics serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 125
- Udgivet:
- 30. april 2018
- Størrelse:
- 189x264x13 mm.
- Vægt:
- 444 g.
- 8-11 hverdage.
- 9. december 2024
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances
The increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and numerics, has allowed for significant developments in such photoelectron metrology. This volume discusses the fundamental concepts along with recent and emerging applications.
Brugerbedømmelser af Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
