Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II - Bog
- Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 300
- Udgivet:
- 13. december 2011
- Udgave:
- 11979
- Størrelse:
- 152x229x17 mm.
- Vægt:
- 466 g.
- 8-11 hverdage.
- 15. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
Normalpris
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.
Brugerbedømmelser af Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
