Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Semiconductor Interfaces: Formation and Properties - Bog
- Proceedings of the Workkshop, Les Houches, France February 24-March 6, 1987
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 389
- Udgivet:
- 6. december 2011
- Udgave:
- 11987
- Størrelse:
- 173x245x21 mm.
- Vægt:
- 662 g.
- 8-11 hverdage.
- 9. december 2024
På lager
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
(ii) Fine characterization down to the atomic scale using recently devel oped, powerful techniques such as scanning tunneling microscopy, high reso lution transmission electron microscopy, glancing incidence x-ray diffraction, x-ray standing waves, surface extended x-ray absorption fine structure and surface extended energy-loss fine structure.
Brugerbedømmelser af Semiconductor Interfaces: Formation and Properties
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Semiconductor Interfaces: Formation and Properties findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
