Black Week: Spar op til 85% Spar op til 85% på et kæmpe udvalg af gode bøger
Udvidet returret til d. 31. januar 2025
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Videnskab
  5. Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Weronika Walkosz - Bog

af Weronika Walkosz

indgår i Springer Theses serien

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces af Weronika Walkosz
Bag om Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781461428572
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 110
  • Udgivet:
  • 28. maj 2013
  • Udgave:
  • 2011
  • Størrelse:
  • 235x155x6 mm.
  • Vægt:
  • 203 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 9. december 2024

Normalpris

  • BLACK WEEK

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Bag om Weronika Walkosz

Vis alle bøger af Weronika Walkosz

Beskrivelse af Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Brugerbedømmelser af Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.