Vi bøger
Levering: 1 - 2 hverdage
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Siegfried Hofmann - Bog

- A User-Oriented Guide

Bag om Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science

Key chapters are those on quantitative surface analysis and on quantitative depth profiling, including recent developments in topics such as surface excitation parameter and backscattering correction factor.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642431739
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 528
  • Udgivet:
  • 15. november 2010
  • Udgave:
  • 2013
  • Størrelse:
  • 154x234x38 mm.
  • Vægt:
  • 814 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 16. januar 2025
Forlænget returret til d. 31. januar 2025
  •  

    Kan ikke leveres inden jul.
    Køb nu og print et gavebevis

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Beskrivelse af Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science

Key chapters are those on quantitative surface analysis and on quantitative depth profiling, including recent developments in topics such as surface excitation parameter and backscattering correction factor.

Brugerbedømmelser af Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science



Find lignende bøger
Bogen Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.