Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures - Andreas Rosenauer - Bog
- An Analysis of Composition and Strain State
- Indbinding:
- Paperback
- Sideantal:
- 241
- Udgivet:
- 13. juni 2013
- Udgave:
- 12003
- Størrelse:
- 235x155x14 mm.
- Vægt:
- 397 g.
- 8-11 hverdage.
- 9. december 2024
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures
This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.
Brugerbedømmelser af Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures findes i følgende kategorier:
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
