Vi bøger
Trustpilot
Levering: 1 - 2 hverdage
Hjælp
Login
  1. Forside
  2. Bøger
  3. Business og læring
  4. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics - Hui Xie - Bog

- Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

af Hui Xie, Cagdas Onal, Stephane Regnier, Metin Sitti

indgår i Springer Tracts in Advanced Robotics serien

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics af Hui Xie
Bag om Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

Vis mere
  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9783642203282
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 344
  • Udgivet:
  • 22. September 2011
  • Udgave:
  • 2011
  • Størrelse:
  • 235x155x25 mm.
  • Vægt:
  • 771 g.
  • 2-3 uger.
  • 22. Oktober 2024
På lager

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Bag om Hui Xie

Vis alle bøger af Hui Xie

Beskrivelse af Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

Brugerbedømmelser af Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics



Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.