Vi bøger
Levering: 1 - 2 hverdage

RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Jianjun Gao - Bog

  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9781891121890
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 350
  • Udgivet:
  • 1. Juni 2010
  • Størrelse:
  • 157x23x234 mm.
  • Vægt:
  • 590 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 18. Oktober 2024
På lager

Normalpris

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Brugerbedømmelser af RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors



Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.