Udvidet returret til d. 31. januar 2025

Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits: The System on Chip Approach - Yichuang Sun - Bog

  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780863417450
  • Indbinding:
  • Paperback
  • Sideantal:
  • 416
  • Udgivet:
  • 1. maj 2008
  • Størrelse:
  • 156x22x234 mm.
  • Vægt:
  • 623 g.
  • 8-11 hverdage.
  • 5. december 2024
På lager

Normalpris

  • BLACK NOVEMBER

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Brugerbedømmelser af Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits: The System on Chip Approach



Find lignende bøger
Bogen Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits: The System on Chip Approach findes i følgende kategorier:

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.