Udvidet returret til d. 31. januar 2025

Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing - Rochit Rajsuman - Bog

  • Sprog:
  • Engelsk
  • ISBN:
  • 9780890065808
  • Indbinding:
  • Hardback
  • Sideantal:
  • 340
  • Udgivet:
  • 1. december 1992
  • Størrelse:
  • 159x23x238 mm.
  • Vægt:
  • 635 g.
  • 2-3 uger.
  • 14. december 2024
På lager
Forlænget returret til d. 31. januar 2025

Normalpris

  • BLACK WEEK

Medlemspris

Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.

Brugerbedømmelser af Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing



Find lignende bøger

Gør som tusindvis af andre bogelskere

Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.