Gør som tusindvis af andre bogelskere
Tilmeld dig nyhedsbrevet og få gode tilbud og inspiration til din næste læsning.
Ved tilmelding accepterer du vores persondatapolitik.Du kan altid afmelde dig igen.
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology - David C. Cox - Bog
indgår i IOP Concise Physics serien
- Indbinding:
- Hardback
- Sideantal:
- 104
- Udgivet:
- 1. oktober 2015
- Størrelse:
- 178x6x254 mm.
- Vægt:
- 367 g.
- 2-3 uger.
- 12. december 2024
På lager
Normalpris
-
BLACK WEEK
Medlemspris
Prøv i 30 dage for 45 kr.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Herefter fra 79 kr./md. Ingen binding.
Beskrivelse af Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.
Brugerbedømmelser af Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Giv din bedømmelse
For at bedømme denne bog, skal du være logget ind.Andre købte også..
Find lignende bøger
Bogen Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology findes i følgende kategorier:
- Business og læring > Videnskab
- Hobby og fritid > Sport
- Matematik og naturvidenskab > Naturvidenskab: generelle emner > Videnskabelige standarder, målesystem osv.
- Matematik og naturvidenskab > Naturvidenskab: generelle emner > Videnskabeligt udstyr, forsøg og teknikker
- Idræt og udendørsaktiviteter > Idræt: generelt
- Teknologi, ingeniørvidenskab og landbrug > Teknologi: generelle emner > Instrumenter og instrumentering > Måling og kalibrering
Du kan altid afmelde dig igen.
© 2024 Tales.dk Esromgade 15, 3. | 2200 København N | Danmark | CVR: DK43351621
